ПРОГРАММА ОБУЧЕНИЯ
Сканирующая электронная микроскопия и микрорентгеноспектральный анализ.
Принципы сканирующей электронной микроскопии. Устройство сканирующего электронного микроскопа (СЭМ).
Металлографические исследования методом СЭМ. Сравнение возможностей оптической металлографии и СЭМ. Топографический и атомный контраст.
Особенности морфологии поверхности разрушения. Виды изломов, усталостных и коррозионных повреждений поверхности.
Микрорентгеноспектральный анализ элементного состава поверхности. Принципы, устройство спектроанализаторов, возможности и ограничения. Качественный, полуколичественный и количественный анализ.
Электронная спектроскопия и масс-спектроскопия вторичных ионов.
Принципы электронной спектроскопии для анализа поверхности. Номенклатура методов электронной спектроскопии. Вопросы глубинного и пространственого разрешения методов (РФС, ОЭС, ВИМС).
Особенности рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии при исследовании металлов, сплавов, полимеров и нанокристаллов.
Особенности спектроскопии Оже-электронов. Сканирующая ОЭС, микроскопия, глубинное профилирование, исследование сегрегационных явлений.
Масс-спектроскопия вторичных ионов. Преимущества метода при определении следовых содержаний химических элементов и их соединений. Статические и динамические исследования. Глубинное профилирование.
Тонкие методики исследования для высоких технологий и научных приложений.
Обобщающие представления о преимуществах, недостатках и перспективах применения методов анализа поверхности.
Занятия проводятся в аудиториях, научных лабораториях и отделениях, оснащенных современным высокотехнологичным оборудованием, что позволяет слушателям получить уникальный опыт работы.
По окончанию обучения проводится итоговая аттестация в форме тестирования и выдается удостоверение о повышении квалификации установленного образца.
Формы обучения: очная, онлайн.
Стоимость обучения: 23.500 рублей.